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低能電子顯微鏡/LEEM
LEEM是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器，能集原位觀測、超快及光電子成像于一體，即我們所稱的“長眼睛的超級XPS“，能對薄膜以及二維材料、鋰離子電池、鈣...

型號： MAKEWAY 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2025/6/5 9:49:53 對比

LEEM低能電子顯微鏡光發射電子顯微鏡PEEM
掃描隧道顯微鏡/NAP-STM
掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope, STM）是一種基于量子隧穿效應的高分辨率表面分析儀器，能夠在原子尺度上直接觀測導電...

型號： MAKEWAY 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2025/6/5 9:46:21 對比

掃描隧道顯微鏡近常壓掃描隧道顯微鏡STM
光發射電子顯微鏡/PEEM
LEEM是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器，能集原位觀測、超快及光電子成像于一體，即我們所稱的“長眼睛的超級XPS"，能對薄膜以及二維材料、鋰離子電池、鈣...

型號： MKW4200 所在地：上海市參考價：面議更新時間：2025/6/5 9:45:20 對比

光發射電子顯微鏡低能電子顯微鏡LEEM